Монография написана на основании результатов научных исследований проводимых НИЛ 3.3 Белорусского государственного университета информатики и радиоэлектроники. Первые две главы посвящены анализу существующих методов тестирования современных ОЗУ. Показывается, что безальтернативным решением является применение неразрушающих маршевых тестов реализуемых в процедурах самотестирования ОЗУ. В третьей главе представлены результаты развития теории адаптивного сигнатурного анализа как универсального метода определения эталонных характеристик для произвольного теста и объекта тестирования – ОЗУ. Четвертая и пятая главы содержат материал, относящийся к симметричным маршевым тестам. Последующие три главы касаются вопросов многократного тестирования ОЗУ с применением маршевых тестов. Целевыми неисправностями при реализации тестов произвольной кратности являются кодочувствительные неисправности, которые описывают практически все множество возможных физических дефектов ОЗУ. Последняя глава содержит... Это и многое другое вы найдете в книге Маршевые тесты для тестирования ОЗУ (Светлана Ярмолик, Артем Занкович und Александр Иванюк)