В книге рассматриваются пути создания комплексной методики обнаружения причин отказов радиоэлектронного оборудования средней и большей сложности. Предлагается методика, предусматривающая разработку специальных схем поиска причин отказов на основе некоторых положений теории вероятностей и теории информации. Основное внимание уделяется ``функциональным пробам``, т. е. Неразрушающим испытаниям по комплексным выходным параметрам. Книга предназначена для лиц, связанных с разработкой, испытанием и эксплуатацией радиоэлектронных систем, и является ``звеном обратной связи`` в общей цепи проектирование-производство-эксплуатация. Это и многое другое вы найдете в книге Поиск неисправностей в радиоэлектронных системах методом функциональных проб (С. П. Ксенз)