18+
На сайте представлено только описание и выходные данные книги «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств С. С. Ковалевский, Е. Ф. Березкин, И. О. Атовмян, В. Б. Шувалов». Сайт не является распространителем книги. Сайт не предоставляет возможности купить, читать онлайн или скачать бесплатно книгу «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств С. С. Ковалевский, Е. Ф. Березкин, И. О. Атовмян, В. Б. Шувалов». Сайт предназначен для лиц старше 18 лет. Если вам не исполнилось 18 лет - незамедлительно покиньте сайт. Оставаясь на сайте вы подтверждаете, что вам исполнилось 18 лет.
Незаконное потребление наркотических средств, психотропных веществ, их аналогов причиняет вред здоровью, их незаконный оборот запрещен и влечет установленную законодательством ответственность
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Перед выбором сравните язык, год, издательство и формат в сведениях ниже. У одной книги могут быть разные переводы и издания.
ISBN этого издания: 978-5-457-61479-6. По нему можно отличить издание от других версий книги.
Описание помогает оценить тему книги; отзывы читателей позволяют дополнить его личным опытом. Оценку и отзыв оставляйте после знакомства с книгой.
izbe.ru