Предлагаемая вниманию читателей книга «Методы измерения параметров полупроводниковых приборов» входит в серию «Полупроводниковые материалы и приборы», созданную на основе выпущенного в США в 1958 г. трехтомного издания книги Transistor Technology.

В настоящем выпуске помещены материалы, относящиеся к исследованию характеристик и контролю параметров полупроводниковых приборов (диодов, триодов и фотодиодов). Наряду с общими соображениями о целях и методах контроля полупроводниковых приборов на разных стадиях их разработки и производства, рассмотрены методы оценки качества приборов на основании анализа эквивалентных схем и введения соответствующих систем параметров, характеризующих работу приборов, а также подробно описаны методы измерений этих параметров при работе на малых и больших сигналах. В книге приведены описания различных методов измерений и измерительных схем, а также указания об условиях их правильной эксплуатации. В гл. V книги приведены материалы, относящиеся к весьма важной и сравнительно мало изученной проблеме исследования надежности полупроводниковых приборов. Это и многое другое вы найдете в книге Метод измерения параметров полупроводниковых приборов (Нет автора)