Монография посвящена геометрическим основам кристаллографии. Изложение базируется на четырех аксиомах: дискретности, покрытия, локального равенства, рациональности. Эти аксиомы физически достаточно очевидны, что помогает выяснить причины кристаллообразования. Все основные понятия кристаллографии (решетка, голоэдрия, сингония и так далее) получают строгие определения, а основные положения представлены в виде теорем.
Книга рассчитана на специалистов и учащихся, интересующихся кристаллографией: математиков, физиков, химиков, минералогов. 2-е издание, стереотипное. Это и многое другое вы найдете в книге Кристаллографическая геометрия (Р. В. Галиулин)