Изложен комплекс вопросов, связанных с проверкой функциональной и параметрической исправности микропроцессорных БИС на производстве. Основное внимание уделено оригинальной методике построения тестов проверки функционирования схем. Описан тестовый параметрический контроль, гарантирующий необходимую помехоустойчивость микропроцессорных БИС. Приведены примеры построения тестов. Это и многое другое вы найдете в книге Тестовый контроль микропроцессорных БИС на производстве (Ясинявичене Г.М., Бургис Б.В., Мецаев, Е.А., Гребликас И.-А.К.)