Впервые рассмотрен вопрос о создании методологии комплексного решения задач, составляющих проблему надежности изделий квантовой электроники. Основной для решения является стохастическая деградационная параметрическая модель (СДПМ) работоспособности, характеризующая статистическую зависимость выходных параметров исследуемого изделия от параметров комплектующих элементов , режимов и условий работы.. Это и многое другое вы найдете в книге Основы надежности изделий квантовой электроники (Торопкин Георгий Никифорович)
Основы надежности изделий квантовой электроники Торопкин Георгий Никифорович
Подробная информация о книге «Основы надежности изделий квантовой электроники Торопкин Георгий Никифорович». Сайт не предоставляет возможности читать онлайн или скачать бесплатно книгу «Основы надежности изделий квантовой электроники Торопкин Георгий Никифорович»
