Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия А. Н. Иванов, Я. С. Уманский, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев

Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанные на различных видах взаимодействия быстрых электронов с веществом. Это и многое другое вы найдете в книге Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия (Я. С. Уманский, Ю. А. Скаков, А. Н. Иванов, Л. Н. Расторгуев)