Методы и аппаратура для анализа характеристик случайных процессов А. Ф. Котюк, Э. И. Цветков, В. В. Ольшевский

В книге излагаются вопросы изучения различных статистических характеристик случайных процессов, в том числе и нестационарных. Оценивается точность измерительных приборов и комплексов с позиций статистической теории. Обсуждаются методы изучения тонкой структуры случайных сигналов. Книга предназначена для специалистов в области измерений и электро- и радиоинженеров различных профилей. Это и многое другое вы найдете в книге Методы и аппаратура для анализа характеристик случайных процессов (А. Ф. Котюк, В. В. Ольшевский, Э. И. Цветков)