В справочнике систематизированы методы анализа химического состава, атомной и электронной структуры поверхности материалов, основанные на эмиссионных явлениях, которые возникают в процессе нагрева, приложения электрического или магнитного поля, а также при взаимодействии различного рода частиц (электронов, ионов, позитронов и др.) и электромагнитного излучения с поверхностью. Приведены схемы приборов, с помощью которых реализуются эти методы. Для облегчения понимания сути методов при описании каждого из них приведены также необходимые теоретические сведения. Рассчитан на научных сотрудников и инженеров, работающих в областях физики твердого тела; физики, химии и механики поверхности; микроэлектроники; металлургии и металловедения; геохимии и физики минералов, а также на преподавателей, аспирантов и �... Это и многое другое вы найдете в книге Методы и приборы для анализа поверхности материалов (В. Т. Черепин, М. А. Васильев)