Приведены сведения по основам теории контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов. Описаны современная технология контроля параметров и испытания, а также испытательное оборудование и контрольно-измерительная аппаратура. Рассмотрены вопросы прогнозирования надежности. Предназначена в качестве учебного пособия для студентов вузов по специальностям 0604, 0629, 0648, 0705. Это и многое другое вы найдете в книге Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. Учебное пособие (О. П. Глудкин, В. Н. Черняев)