Автором предложены и апробированы новые методы исследования нанооксидов металлов с помощью сканирующего туннельного микроскопа - «нанолаборатория», туннельные кинетическая, резонансная и электронно-колебательная спектроскопии, которые позволяют синтезировать, модифицировать единичные поверхностные кластеры и тонкие пленки и исследовать их физико-химические характеристики. Для тонких пленок оксидов показана возможность детектирования и изучения свойств единичных структурных дефектов (времен перезарядки, областей локализации захваченных электронов) – электронных ловушек, имеющих важное значение для гетерогенного катализа, микроэлектроники и т.д. Физические и химические характеристики единичных несовершенных кластеров оксидов – энергетические уровни дефектов, формы адсорбции и эффекты их поляризации – могут успешно изучаться с помощью развитых экспериментальных методов. Это и многое другое вы найдете в книге Туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов (М. В. Гришин)