В монографии рассмотрены современные проблемы развития структурночувствительной диагностики поверхности твердых тел под действием рентгеновского зонда в режиме стоячих волн, дан обзорный анализ базовых идей, лежащих в основе этого метода, описана методика исследования полупроводниковых состояний, включая аспекты предпороговых возбуждений, сопровождающихся электронной эмиссией под действием непрерывного резонансного комбинационного рассеяния. Приведены результаты изучения поверхностных атомных слоев кремния, рассмотрены перспективы и возникающие новые возможности метода стоячих рентгеновских волн при создании аналитического комплекса на основе синхротронных источников излучения. Монография ориентирована на исследователей, аспирантов, студентов, специализирующихся на методах нанодиагностики и аналитическом приборостроении для нанотехнологических комплексов. Это и многое другое вы найдете в книге Дифракционная рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (И. Зельцер und Е. Моос)