Введение в технологии JTAG и DFT Ами Городецкий

Монография является первым и пока единственным на русском языке систематическим изложением одного из наиболее востребованных направлений структурного тестирования в современной электронике – технологий граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT), а также внутрисхемного тестирования (ICT), и в равной степени может служить как учебником для студентов и преподавателей инженерных, электронных и компьютерных специальностей университетов и колледжей с преподаванием соответствующих курсов, так и справочником для инженеров и техников, работающих в промышленности высоких технологий. Книга охватывает введение в стандарты цифрового IEEE (1149.1) и аналогового (1149.4) граничного сканирования, расширение этого стандарта на дифференциальные LVDS-цепи (1149.6), новый двухконтактный JTAG стандарт 1149.7, внутрисхемное конфигурирование ПЛМ и FPGA, структуры СнК и новейший стандарт тестопригодного проектирования микросхем Р1687. В книге сделан обзор наиболее распространенных... Это и многое другое вы найдете в книге Введение в технологии JTAG и DFT (Ами Городецкий)