Первое учебное пособие на русском я зыке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей. Это и многое другое вы найдете в книге Основы сканирующий зондовой микроскопии (В. Л. Миронов)