Основы структурного анализа химических соединений. Учебное пособие М. А. Порай-Кошиц

Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы "начальных фаз", наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. Предназначается для студентов химических специальностей университетов. Это и многое другое вы найдете в книге Основы структурного анализа химических соединений. Учебное пособие (М. А. Порай-Кошиц)