В третьем издании книги представлены новые достижения в области микроскопии и экспериментальных методов дифракции. Новое издание увеличилось на одну главу. Внесены существенные изменения в главы 1, 3, 7, 8 и 9. Текст полностью отредактирован для большей ясности изложения и исправления недостатков, обнаруженных в ходе преподавания. Книга представляет интерес для ученых, инженеров и преподавателей высшей школы, аспирантов и студентов профильных вузов. Это и многое другое вы найдете в книге Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов (Б. Фульц, Дж. М. Хау)