Термодинамические основы диагностики надежности микроэлектронных устройств В. Л. Воробьев

В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств. Разработаны термодинамические модели надежности. Сформулирована методология и рассмотрены термодинамические методы интегральной диагностики. Показаны возможности и способы управления качеством и надежностью. Разработана система термодинамических методов индивидуальной и групповой оценки, контроля, прогнозирования надежности широкого класса микроэлектронных устройств. Представлены типичные диагностические задачи и примеры практического применения термодинамических методов. Для специалистов в области качества и надежности изделий микроэлектроники, радиоэлектроники и приборостроения. Это и многое другое вы найдете в книге Термодинамические основы диагностики надежности микроэлектронных устройств (В. Л. Воробьев)