Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения.Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.
Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями. Это и многое другое вы найдете в книге Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля (Д. Брандон, У. Каплан)